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NANOSKALA
MATERIALFORSCHUNG
PETRA III
NUTZERGRUPPEN
HAMBURG
SPEZIALISIERUNG
WISSENSTRANSFER
HOCHSCHULEN
NANOTOMOGRAFIE
AUßENSTELLE
Mittwoch (18.09.2019)
12:00
Vortrag (20 Min., 5 Min. Diskussion, 5 Min. Raumwechsel)
15: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung
15.01: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung - Session 1
15: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung
15.01: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung - Session 1
Session beginnt um 11:30 Uhr
ANAXAM - Technologietransferzentrum Advanced Manufacturing
Dr. Christian Gruenzweig
Hamburg 2
Donnerstag (19.09.2019)
10:00
Vortrag (20 Min., 5 Min. Diskussion, 5 Min. Raumwechsel)
15: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung
15.04: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung - Session 4
15: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung
15.04: Tomographische Methoden zur Materialcharakterisierung - Session 4
Session beginnt um 09:30 Uhr
Die Tomographie-Instrumente des GEMS am Synchrotron PETRA III und ihre Anwendungsmöglichkeiten in der materialwissenschaftlichen Forschung
Dr. Christina Krywka
Dr. Marc Thiry
Hamburg 2
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Datum
Mittwoch (18.09.2019)
Donnerstag (19.09.2019)
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Vortragsarten
Vortrag (20 Min., 5 Min. Diskussion, 5 Min. Raumwechsel)
